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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023. <BB00058935>
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No. 巻号 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 5階 B:通常書架 371/7/36 1008790832
貸出中 2026/10/1 1件
No. 0001
巻号
配置場所 5階 B:通常書架
請求記号 371/7/36
資料ID 1008790832
状態 貸出中
返却予定日 2026/10/1
予約 1件
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
出版・頒布事項 京都 : ナカニシヤ出版 , 2023.3
形態事項 viii, 223p ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784779517044
その他の標題 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
学情ID BD00745593
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Gergen, Kenneth J. <>
著者標目リンク Gill, Scherto R. <>
著者標目リンク 東村, 知子
ヒガシムラ, トモコ <>
著者標目リンク 鮫島, 輝美
サメシマ, テルミ <>
分類標目 教育学.教育思想 NDC9:371.7
分類標目 教育学.教育思想 NDC10:371.7
分類標目 教育 NDLC:FC63
件名標目等 教育評価||キョウイクヒョウカ
件名標目等 教育評価||キョウイクヒョウカ